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半導體材料四探針測試儀
JKZC-ST4型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準 儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。
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微波介質材料電磁特性參數測試系統
微波介質材料目前已經廣泛應用于航空航天、微波通信、隱身技術、微波通信、衛星通信、電子對抗、雷達導航、遙感、遙測等系統生物醫學、 電磁兼容等各領域在研發、生產和使用微波介質材料時都需要測試其電磁特性參數,AV-40G型微波介質材料電磁特性參數測試系統是一款設計采用傳輸反射法進行寬頻帶掃頻測量,主要設備包括矢量網絡分析儀、測試電纜、測試夾具和自動測量軟件,系統用于測量固體介質材料的介電常數、
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JKZC-G3型非接觸式靜電電壓表測量裝置
1. 概述 隨著工業技術特別是信息產業發展,靜電對各部門的影響越來越大,靜電電壓表和靜電場強表使用越來越多,對靜電進行定期計量校準、標定檢定是確保靜電防護的基本條件。 JKZC-G系列靜電電壓表計量裝置能迅速準確計量校準、標定檢定目前國內外大部分的靜電電壓表和靜電場強表.。標準型主要適用于電子、航天、兵器、國防等與電子元器件、電子設備相關的行業。
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非接觸式靜電電壓表校準裝置結構
非接觸式靜電電壓表校準裝置測量時勿需同帶電體接觸,數字風速儀不但能測量金屬體的靜電,也能測量絕緣體的靜電,且對被測量物體影響小。非接觸式靜電電壓表校準裝置結構
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非接觸式靜電電壓表校準裝置供應
非接觸式靜電電壓表校準裝置測量時勿需同帶電體接觸,數字風速儀不但能測量金屬體的靜電,也能測量絕緣體的靜電,且對被測量物體影響小。非接觸式靜電測量儀主要有 ; 直接感應式、振動電容式、旋轉葉片式等幾種結構。非接觸式靜電電壓表校準裝置供應
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